ТЕХНИЧЕСКИЕ ПАРАМЕТРЫ:

Режимы работы:

Туннельный, контактный АСМ, полуконтактный АСМ;

Дополнительные режимы:

более двадцати: AFM-виброметодики; STM- и AFM- литография, STM-спектроскопия, люминесценция и спин-поляризация, анализ физических свойств - электропроводность, эл. потенциалы и ёмкость, намагниченность, упругость, трение, вязкость, адгезия, теплопроводность, пьезо-ферро-модули;

Два сменных сканера:

150×150×5 мкм — сканер J

0.5×0.5×0.5 мкм — сканер A

Размер образцов:

до 1,5 см в диаметре

Разрешение:

СТМ режим: 10 А (сканер J), атомарное (сканер A);

АСМ режим: 0.3 нм;

Условия работы:

учебная аудитория или научная лаборатория, допустимость сборки-разборки, питание 220В 3Вт

Контроллер:

NanoScope IIIа. Разрешение перемещения по каждой из 3-х координат составляет 16 бит, максимальный размер кадра 512х512 точек.

Оптическая система:

Высокоразрешающая (менее 2 мкм) оптическая система позволяет наблюдать область сканирования и контролировать процесс позиционирования образца.

·         Наблюдение ведется «сверху вниз»

·         Подсветка по оптоволокну

·         Автоматическая подстройка яркости

·         Возможность трансляции видеосигнала, как в компьютер, так и на отдельный монитор

·         Перемещение микроскопа в плоскости XY

Опции программного обеспечения:

сканирование, кривые подвода, двух/трехмерные кадры, выбор палитр, измерение размеров по сечениям, процентильные и матричные обработки; анализ шероховатостей; Фурье, корреляционный, фрактальный, морфологический и гранулометрический анализы;

Комплектация:

Сменные сканеры; АСМ-головка; СТМ-головка; держатели кантилеверов для АСМ-головки; блок управления с блоком питания, шнурами и программным обеспечением; оптическая система;