ТЕХНИЧЕСКИЕ ПАРАМЕТРЫ:

Базовые режимы:

сканирующая туннельная микроскопия (STM) и атомно-силовая микроскопия (AFM)

Дополнительные режимы:

более двадцати: AFM-виброметодики; STM- и AFM- литография, STM-спектроскопия, люминесценция и спин-поляризация, анализ физических свойств - электропроводность, эл. потенциалы и ёмкость, намагниченность, упругость, трение, вязкость, адгезия, теплопроводность, пьезо-ферро-модули;

Разрешение:

0.1 А (атомарное) в режиме STM, 0.1А / 5-20А в режиме AFM по высоте / латерали;

Разрешение в дополнительных режимах:

5-100А, в зависимости от зонда, физики процесса и образца;

Два сменных сканера:

поля 1.5мкм/1.5мкм/0.25мкм и 20мкм/20мкм/2.5 мкм;

Размер образцов:

до 40мм/25мм/15мм, подвод / позиционирование образца на 20мм / 2ммс шагом до 1нм;

Условия работы:

учебная аудитория или научная лаборатория, допустимость сборки-разборки, питание 220В 3Вт

Опции программного обеспечения:

сканирование, кривые подвода и ВАХ, двух/трехмерные кадры, выбор палитр, измерение размеров по сечениям, процентильные и матричные обработки; поточечная коррекция, анализ шероховатостей ISO; Фурье, корреляционный, фрактальный, морфологический и гранулометрический анализы;

Комплектация:

головка микроскопа с виброподвеской, лазерным датчиком и сканером; блок управления с блоком питания, шнурами и программным обеспечением; набор ЗИП со вторым сканером и запасными зондами